High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Lee, Mike Tien - Chien (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston Artech House c1997
Schriftenreihe:The Artech House solid-state technology library
Schlagworte:
Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction > Data processing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing > Data processing.
Computer-aided design.
Digital integrated circuits > Testing > Data processing.
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:xi, 220 pages: illustrations; 24 cm.
Bibliographie:Includes bibliographical references (p. 199-214) and index.
ISBN:0890069077

Ähnliche Einträge