High-level test synthesis of digital VLSI circuits /
Збережено в:
Автор: | Lee, Mike Tien - Chien (Автор) |
---|---|
Формат: | Книга |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Boston
Artech House
c1997
|
Серія: | The Artech House solid-state technology library
|
Предмети: | |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
-
High-Level synthesis of digital VLSI circuits /
за авторством: Lee, Mike Tien-Chien
Опубліковано: (1997) -
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Опубліковано: (2006) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
за авторством: Hurst, Stanley L.
Опубліковано: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
за авторством: Hurst, Stanley L. -
VLSI test principles and architectures design for testability
Опубліковано: (2006)