High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Lee, Mike Tien - Chien (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston Artech House c1997
Schriftenreihe:The Artech House solid-state technology library
Schlagworte:
Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction > Data processing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing > Data processing.
Computer-aided design.
Digital integrated circuits > Testing > Data processing.
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