Accelerating image processing of wafer inspection /

में बचाया:
ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखकों: Sani Irwan Md Salim, Dr (लेखक), Lim, Kim Chuan, Associate Professor Dr (लेखक), Zulkarnain Mohd Yussof, Professor Dr (लेखक), Choon, Chin Yoon (लेखक)
स्वरूप: सामग्री का झोला
भाषा:English
प्रकाशित: Durian Tunggal, Melaka : Faculty of Electronics and Computer Engineering, 2020.
विषय:
टैग : टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!

Unit Digital, Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: 5

होल्डिंग्स विवरण से Unit Digital, Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: 5
बोधानक: CDR 21032
प्रति Unknown उपलब्ध  होल्ड करें