Analysis and test development for parasitic fails in deep sub-micron memory devices
Gardado en:
| Autor Principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Idioma: | English |
| Publicado: |
[S.l.]
[s.n.]
2011
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| Subjects: | |
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| Descrición Física: | ix, 132 p. ill. (some col.) 24 cm |
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| ISBN: | 9789072298225 |