Analysis and test development for parasitic fails in deep sub-micron memory devices
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Język: | English |
| Wydane: |
[S.l.]
[s.n.]
2011
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
| Opis fizyczny: | ix, 132 p. ill. (some col.) 24 cm |
|---|---|
| ISBN: | 9789072298225 |