Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Wong, Yan Chiew
Autor Corporativo: Universiti Teknikal Malaysia Melaka. Faculty of Electronics and Computer Engineering
Formato: Livro
Idioma:English
Publicado em: Durian Tunggal Universiti Teknikal Malaysia Melaka 2009
Assuntos:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing
Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction
Genetic algorithms
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Descrição
Descrição do item:Penyelidikan Jangka Pendek (PJP/2008/FKEKK(7)-S435)
Descrição Física:xi, 75 p. ill. 30 cm

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