Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Wong, Yan Chiew
Körperschaft:	Universiti Teknikal Malaysia Melaka. Faculty of Electronics and Computer Engineering
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Durian Tunggal Universiti Teknikal Malaysia Melaka 2009
Schlagworte:	Integrated circuits > Very large scale integration > Testing Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction Genetic algorithms
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