Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
Збережено в:
Автор: | Wong, Yan Chiew |
---|---|
Співавтор: | Universiti Teknikal Malaysia Melaka. Faculty of Electronics and Computer Engineering |
Формат: | Книга |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Durian Tunggal
Universiti Teknikal Malaysia Melaka
2009
|
Предмети: | |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
-
Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation
за авторством: Wong, Yan Chiew
Опубліковано: (2009) -
Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
за авторством: Mazumder, Pinaki
Опубліковано: (1999) -
Genetic algorithms for VLSI design, layout & test automation
за авторством: Mazumder, Pinaki
Опубліковано: (1999) -
IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems.
Опубліковано: (1993) -
Genetic algorithms for VLSI design, layout and test automation /
за авторством: Mazumder, Pinaki
Опубліковано: (1999)