Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Wong, Yan Chiew
Співавтор: Universiti Teknikal Malaysia Melaka. Faculty of Electronics and Computer Engineering
Формат: Книга
Мова:English
Опубліковано: Durian Tunggal Universiti Teknikal Malaysia Melaka 2009
Предмети:
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Схожі ресурси