Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation

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Autore principale: Wong, Yan Chiew
Ente Autore: Universiti Teknikal Malaysia Melaka. Faculty of Electronics and Computer Engineering
Natura: Libro
Lingua:English
Pubblicazione: Durian Tunggal Universiti Teknikal Malaysia Melaka 2009
Soggetti:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing
Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction
Genetic algorithms
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