Genetic algorithm for very large scale integration (VLSI) test generation

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Wong, Yan Chiew
Autor Corporativo: Universiti Teknikal Malaysia Melaka. Faculty of Electronics and Computer Engineering
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: Durian Tunggal Universiti Teknikal Malaysia Melaka 2009
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Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Archives

Detalle de Existencias desde Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Archives
Número de Clasificación: TK7874 75 W66 2009
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