Data modeling for metrology and testing in measurement science

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Pavese, Franco, Forbes, Alistair B.
פורמט: ספר
יצא לאור: Boston, MA Birkhauser 2009
סדרה:Modeling and simulation in science, engineering and technology
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf

פרטי מלאי ספרים מ Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
סימן המיקום: QA465 D37 2009
עותק Unknown זמין  ביצוע הזמנה