Testing and testable design of high-density random-access memories
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Mazumder, Pinaki |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Chakraborty, Kanad |
التنسيق: | كتاب |
منشور في: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
سلاسل: | Frontiers in electronic testing
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Testing and testable design of high-density random-access memories
بواسطة: Mazumder, Pinaki
منشور في: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
بواسطة: Mazumder, Pinaki
منشور في: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
بواسطة: Mazumder, Pinaki
منشور في: (1996) -
Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies /
منشور في: (2010) -
Fabrication and characterization of engineered tunnel barrier for nonvolatile memory application /
بواسطة: Zarimawaty Zailan
منشور في: (2012)