Testing and testable design of high-density random-access memories
Uloženo v:
Hlavní autor: | Mazumder, Pinaki |
---|---|
Další autoři: | Chakraborty, Kanad |
Médium: | Kniha |
Vydáno: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
Edice: | Frontiers in electronic testing
|
Témata: | |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky
-
Testing and testable design of high-density random-access memories
Autor: Mazumder, Pinaki
Vydáno: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
Autor: Mazumder, Pinaki
Vydáno: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
Autor: Mazumder, Pinaki
Vydáno: (1996) -
Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies /
Vydáno: (2010) -
Fabrication and characterization of engineered tunnel barrier for nonvolatile memory application /
Autor: Zarimawaty Zailan
Vydáno: (2012)