Testing and testable design of high-density random-access memories

Testing and testable design of high-density random-access memories

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Mazumder, Pinaki
Otros Autores: Chakraborty, Kanad
Formato: Libro
Publicado: Boston, MA Kluwer Academic Pub. 1996
Colección:Frontiers in electronic testing
Materias:
Random access memory > Testing
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