Testing and testable design of high-density random-access memories

Testing and testable design of high-density random-access memories

Show other versions (3)
שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Mazumder, Pinaki
מחברים אחרים: Chakraborty, Kanad
פורמט: ספר
יצא לאור: Boston, MA Kluwer Academic Pub. 1996
סדרה:Frontiers in electronic testing
נושאים:
Random access memory > Testing
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים

פריטים דומים