Testing and testable design of high-density random-access memories
שמור ב:
מחבר ראשי: | Mazumder, Pinaki |
---|---|
מחברים אחרים: | Chakraborty, Kanad |
פורמט: | ספר |
יצא לאור: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
סדרה: | Frontiers in electronic testing
|
נושאים: | |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
-
Testing and testable design of high-density random-access memories
מאת: Mazumder, Pinaki
יצא לאור: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
מאת: Mazumder, Pinaki
יצא לאור: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
מאת: Mazumder, Pinaki
יצא לאור: (1996) -
Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies /
יצא לאור: (2010) -
Fabrication and characterization of engineered tunnel barrier for nonvolatile memory application /
מאת: Zarimawaty Zailan
יצא לאור: (2012)