Testing and testable design of high-density random-access memories
Збережено в:
Автор: | Mazumder, Pinaki |
---|---|
Інші автори: | Chakraborty, Kanad |
Формат: | Книга |
Опубліковано: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
Серія: | Frontiers in electronic testing
|
Предмети: | |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
-
Testing and testable design of high-density random-access memories
за авторством: Mazumder, Pinaki
Опубліковано: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
за авторством: Mazumder, Pinaki
Опубліковано: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
за авторством: Mazumder, Pinaki
Опубліковано: (1996) -
Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies /
Опубліковано: (2010) -
Fabrication and characterization of engineered tunnel barrier for nonvolatile memory application /
за авторством: Zarimawaty Zailan
Опубліковано: (2012)