Testing and testable design of high-density random-access memories
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Mazumder, Pinaki |
---|---|
Tác giả khác: | Chakraborty, Kanad |
Định dạng: | Sách |
Được phát hành: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
Loạt: | Frontiers in electronic testing
|
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Những quyển sách tương tự
-
Testing and testable design of high-density random-access memories
Bằng: Mazumder, Pinaki
Được phát hành: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
Bằng: Mazumder, Pinaki
Được phát hành: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
Bằng: Mazumder, Pinaki
Được phát hành: (1996) -
Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies /
Được phát hành: (2010) -
Fabrication and characterization of engineered tunnel barrier for nonvolatile memory application /
Bằng: Zarimawaty Zailan
Được phát hành: (2012)