Testing and testable design of high-density random-access memories
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | |
| Natura: | Libro |
| Pubblicazione: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
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| Serie: | Frontiers in electronic testing
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| Soggetti: | |
| Tags: |
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