Testing and testable design of high-density random-access memories
Сохранить в:
Главный автор: | |
---|---|
Другие авторы: | |
Формат: | |
Опубликовано: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
Серии: | Frontiers in electronic testing
|
Предметы: | |
Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Search Result 1
Search Result 2
Search Result 3