Testability and fault tolerance for emerging nanoelectronic memories
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Formato: | Tesis Libro |
| Publicado: |
United Kingdom
University of Newcastle
2012
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| Materias: | |
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Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Archives
| Número de Clasificación: |
QA76 9 F38 N67 2012 |
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