Testing and testable design of high-density random-access memories
Tallennettuna:
Päätekijä: | |
---|---|
Muut tekijät: | |
Aineistotyyppi: | Kirja |
Julkaistu: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
Sarja: | Frontiers in electronic testing
|
Aiheet: | |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
Hyllypaikka: |
TK7895 M4 M39 1996 |
---|---|
Nide Unknown | Saatavissa Tee varaus |