Testing and testable design of high-density random-access memories
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| 主要作者: | |
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| 其他作者: | |
| 格式: | 圖書 |
| 出版: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
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| 叢編: | Frontiers in electronic testing
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| 主題: | |
| 標簽: |
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Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
| 索引號: |
TK7895 M4 M39 1996 |
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| 復印件 Unknown | 可用 預訂 |