Testing and testable design of high-density random-access memories
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| 格式: | 图书 |
| 出版: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
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| 丛编: | Frontiers in electronic testing
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Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
| 索引号: |
TK7895 M4 M39 1996 |
|---|---|
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