Investigation and modelling of boron diffusion reduction in silicon by fluorine implantation using numerical simulation

TThe objective of this project is to investigate the reduction of both the boron thermal diffusion and transient enhanced diffusion in silicon by fluorine implantation at the silicon surface.

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Chuah, Soo Kiet (Author)
פורמט: אלקטרוני תכנה Database
שפה:English
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

System Under Maintenance

Our Library Management System is currently under maintenance.

Holdings and item availability information is currently unavailable. Please accept our apologies for any inconvenience this may cause and contact us for further assistance:

david@pintaran.my